TOC i rozpuszczony O2 w mikroelektronice

Zwiększanie wydajności płytek i układów scalonych

Przemysł mikroelektroniczny jest największym użytkownikiem wody i wody ultraczystej (UPW).
Dzisiejszy przemysł musi produkować wodę o wyższej jakości, aby spełnić wymagania produkcyjne, a także zmniejszyć ilość wody używanej w produkcji.

To seminarium na żywo pokazuje, w jaki sposób analityka procesowa stanowi klucz do pokonania tych wyzwań. Dowiedz się, jak kontrola całkowitego węgla organicznego (TOC), tlenu rozpuszczonego i innych parametrów analitycznych może zapobiec wadom i zmniejszyć zużycie wody świeżej.

Poruszane tematy będą obejmować:

• Kluczowe pomiary analityczne wymagane do zwiększenia wydajności produkcji półprzewodników i rola, jaką odgrywają w procesie obróbki wafli.
• Dlaczego kontrola TOC zapobiega uszkodzeniom obwodów IC.
• Jak rozpuszczony tlen może powodować wytrawianie i utratę kontroli nad grubością tlenku bramki.
• Zalecenia dotyczące odzysku/ponownego użycia/recyklingu.

Czas trwania: 45 minut j. angielski
28.10.2022 godz. 16:00 

Zarejestruj się na webinarium już teraz

Prelegent: Jim Cannon - szef działu OEM i rynków, METTLER TOLEDO Thornton

Po uzyskaniu tytułu licencjata w dziedzinie biologii, kontynuował studia magisterskie w zakresie mikrobiologii i biofizyki oraz uzyskał tytuł MBA w zakresie marketingu i zarządzania międzynarodowego. Pan Cannon ma ponad 35-letnie doświadczenie w zarządzaniu, projektowaniu i rozwoju technologii uzdatniania wody ultraczystej. Obejmuje to pomiary przewodności różnicowej i utleniania UV do wykrywania TOC w UPW oraz projektowanie i komercjalizację modułów elektrodejonizacyjnych.

Pan Cannon jest obecnie zaangażowany w działalność organizacji normalizacyjnych i regulacyjnych dla rynków półprzewodników, fotowoltaiki i farmacji, w tym komitetu ds. obiektów i płynów, grupy zadaniowej Reclaim/Reuse/Recycle oraz grupy zadaniowej UPW.

Po wykładzie odbędzie się sesja pytań i odpowiedzi z udziałem prezentera.